典型文献
基于FPGA中双锁相环IP核的重力仪干涉条纹和时间间隔测量方法
文献摘要：
介绍了FPGA在绝对重力仪中对落体下落时间和距离进行的测量原理及方法,阐述了以Altera公司Cyclone IV系列的EP4CE6E22C8N芯片为核心,构造的可编程片上系统以及倍频移相测时法的实现过程,该测时技术对重力仪中落体在一次大约200 m下落过程中的测量误差为±0.6 ns,测量标准不确定度为0.308 ns,分辨力可达到0.4 ns,提高了现有绝对重力仪的时间测量精度,通过仿真软件与实验数据验证了设计的正确性和有效性.
文献关键词：
FPGA;倍频移相;时间间隔测量;重力仪;干涉条纹
中图分类号：
作者姓名：
张博
作者机构：
黑龙江省计量检定测试研究院,哈尔滨150028
文献出处：
引用格式：
[1]张博-.基于FPGA中双锁相环IP核的重力仪干涉条纹和时间间隔测量方法)[J].计量科学与技术,2022(12):61-66,40
A类：
倍频移相
B类：
FPGA,双锁相环,干涉条纹,时间间隔测量,绝对重力仪,落体,下落,测量原理,Altera,Cyclone,IV,EP4CE6E22C8N,可编程,片上系统,实现过程,中落,测量误差,ns,测量标准,标准不确定度,分辨力,时间测量,测量精度,数据验证
AB值：
0.346415
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