典型文献
电连接器组件典型失效模式特征及原因
文献摘要：
电连接器组件的失效概率在电子元器件失效中所占比例较大,其失效会影响整个系统的可靠性.本文总结归纳了电连接器组件的典型失效模式、特征及原因,并提出了预防措施.结果表明:断路主要是由接触体和接触体尾端电缆的断裂所致;短路(击穿)主要是由本该绝缘的2个零件距离过近或导电多余物的进入等所致;电参数漂移主要是由接触体之间、接触体尾端与压接电缆之间接触电阻过大所致.电连接器组件失效的根本原因有材料、设计、工艺、服役等,因此必须统计和分析更多的失效案例,为预防电连接器组件的失效提供数据支撑.
文献关键词：
电连接器;失效特征;断路;短路(击穿);电参数漂移
中图分类号：
作者姓名：
魏振伟;刘昌奎
作者机构：
中国航发北京航空材料研究院,北京 100095;航空工业失效分析中心,北京 100095;航空材料检测与评价北京市重点实验室,北京 100095;中国航空发动机集团材料检测与评价重点实验室,北京 100095
文献出处：
引用格式：
[1]魏振伟;刘昌奎-.电连接器组件典型失效模式特征及原因)[J].失效分析与预防,2022(01):63-72
A类：
电参数漂移
B类：
电连接器,失效模式,模式特征,失效概率,电子元器件,元器件失效,断路,尾端,电缆,短路,击穿,本该,绝缘,零件,多余物,压接,接电,接触电阻,服役,失效案例,失效特征
AB值：
0.258627
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