典型文献
93C56B耐久性试验方法研究
文献摘要：
为进一步挖掘EEPROM器件的应用潜力,以微芯片93C56B为例,设计一套针对存储数据耐久性的试验方法.从具体工艺需求入手,探讨万次擦写对存储器的耐久性与产品可靠性的意义.基于前期工作经验和成果,面向生产第一线,从硬件、软件两方面设计并实现一套具体的擦写器系统,并在使用中减少人工干预,提高工作效率,使操作简单、方便、直观.擦写器系统硬件体积小、软件界面友好、易操作,便于查错和批量作业,已在实际生产测试中得到良好应用,对于节约时间与人工成本效果明显.
文献关键词：
EEPROM器件;93C56B型微芯片;数据擦写;数据校验;存储耐久性
中图分类号：
作者姓名：
苏琳;郎猛
作者机构：
中国电子科技集团公司第四十七研究所,沈阳110000
文献出处：
引用格式：
[1]苏琳;郎猛-.93C56B耐久性试验方法研究)[J].微处理机,2022(03):34-37
A类：
93C56B,数据擦写,存储耐久性
B类：
耐久性试验,EEPROM,微芯片,万次,存储器,产品可靠性,前期工作,第一线,人工干预,提高工作效率,系统硬件,体积小,面友,查错,批量作业,人工成本,成本效果,数据校验
AB值：
0.331724
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