典型文献
RFID系统克隆标签检测方法综述
文献摘要：
随着物联网的发展和无线射频识别技术(radio frequency identification,RFID)的广泛应用,RFID系统的安全问题越发突出.其中克隆标签的出现极大地阻碍了RFID系统的大规模发展,成为当前一个亟待解决的难题.通过总结分析目前RFID克隆标签检测领域的一些主流方法,旨在为后续研究更有效的RFID克隆标签检测策略奠定基础.针对目前已知的一些检测方法,该文将克隆标签检测方法归纳总结为射频指纹、同步秘密、轨迹分析和碰撞检测四大类,并较为系统地对这四大类方法所包含的具体策略进行了研究,同时对这些方法策略进行了横向与纵向的对比分析.目前这四类方法都存在一定的缺陷,导致其无法直接应用于现有RFID系统进行克隆标签检测或者应用条件较苛刻.针对目前这些方法存在的问题,认为匿名RFID系统克隆标签的分布式检测是未来的一个主要研究方向.
文献关键词：
无线射频识别;克隆标签;射频指纹;同步秘密;轨迹分析;碰撞检测
中图分类号：
作者姓名：
孔春明;黄茗涵;徐鹤
作者机构：
南京邮电大学 贝尔英才学院,江苏 南京 210023;南京邮电大学 计算机学院、软件学院、网络空间安全学院,江苏 南京 210023
文献出处：
引用格式：
[1]孔春明;黄茗涵;徐鹤-.RFID系统克隆标签检测方法综述)[J].计算机技术与发展,2022(08):122-128
A类：
克隆标签,同步秘密
B类：
RFID,方法综述,无线射频识别技术,radio,frequency,identification,地阻,大规模发展,检测领域,主流方法,检测策略,方法归纳总结,结为,射频指纹,轨迹分析,碰撞检测,具体策略,方法策略,四类,接应,应用条件,苛刻,匿名,分布式检测
AB值：
0.255425
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