典型文献
高时间分辨力瞬态热反射显微热成像装置
文献摘要：
瞬态热反射显微热成像能够测量电子器件表面温度分布,兼具高时间分辨力和高空间分辨力,在GaN HEMT等大功率器件热测试中应用日益广泛.研发了瞬态热反射显微热成像装置,利用窄脉冲照明,捕捉特定短时间内被测器件表面的图像,实现瞬态热反射热成像,时间分辨力达到1μs.以微带电阻作为被测器件开展了瞬态测温实验,激励脉宽10μs,测试得到了不同时刻微带电阻上温度分布,可以观察到升温和降温过程的细节,温度上升和下降时间在(2～3)μs,有效验证了装置的时间分辨力性能.
文献关键词：
热反射显微热成像;温度分布;瞬态;高时间分辨力
中图分类号：
作者姓名：
刘岩;翟玉卫;荆晓冬;丁立强;任宇龙;吴爱华
作者机构：
中国电子科技集团公司第十三研究所,石家庄050051
文献出处：
引用格式：
[1]刘岩;翟玉卫;荆晓冬;丁立强;任宇龙;吴爱华-.高时间分辨力瞬态热反射显微热成像装置)[J].宇航计测技术,2022(05):73-78
A类：
高时间分辨力,热反射显微热成像
B类：
瞬态,电子器件,表面温度,温度分布,空间分辨,GaN,HEMT,大功率器件,益广,窄脉冲,照明,力达,微带,带电,测温,脉宽,试得,不同时刻,下降时间,有效验证
AB值：
0.215901
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