典型文献
高光谱成像结合模式识别无损检测猕猴桃成熟度
文献摘要：
为实现"贵长"猕猴桃成熟度的快速无损检测,提出高光谱成像结合模式识别建立识别模型的检测方法.首先利用可见/近红外(390～1 030 nm)高光谱成像系统采集不同成熟阶段猕猴桃样本的高光谱图像,并获取整个样本区域的光谱反射率.然后对比3种光谱预处理方法:二阶导数、标准正态变换以及多元散射校正对原始光谱的预处理效果.最后分析偏最小二乘判别分析(PLS-DA)和简化的K最近邻(SKNN)模式识别方法对猕猴桃成熟度的识别性能.结果表明:相对于标准正态变换和多元散射校正两种光谱预处理方法,二阶导数预处理方法对原始光谱的预处理效果相对较好.另外,PLS-DA识别模型对猕猴桃成熟度的识别性能要优于SKNN识别模型,其正确识别率达到100％.表明采用高光谱成像技术结合模式识别方法判别"贵长"猕猴桃成熟度是可行的.
文献关键词：
"贵长"猕猴桃;成熟度;高光谱成像;模式识别;无损检测
中图分类号：
作者姓名：
尚静;黄人帅;张艳;张书琴;孟庆龙
作者机构：
贵阳学院食品与制药工程学院,贵阳市,550005;贵阳学院农产品无损检测工程研究中心,贵阳市,550005
文献出处：
引用格式：
[1]尚静;黄人帅;张艳;张书琴;孟庆龙-.高光谱成像结合模式识别无损检测猕猴桃成熟度)[J].中国农机化学报,2022(08):90-95
A类：
SKNN
B类：
结合模式,模式识别,猕猴桃,成熟度,快速无损检测,识别模型,近红外,光谱成像系统,成熟阶段,高光谱图像,取整,本区,光谱反射率,光谱预处理,预处理方法,二阶导数,正态变换,多元散射校正,处理效果,偏最小二乘判别分析,PLS,DA,最近邻,识别性,识别率,高光谱成像技术,技术结合
AB值：
0.197784
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