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微处理器中子单粒子效应测试系统设计与试验研究
文献摘要：
为开展微处理器的空间大气中子单粒子效应研究,以一款TI公司65 nm CMOS工艺的微处理器为研究对象,研制了一套微处理器中子单粒子效应测试系统.该测试系统可实现对被测微处理器的单粒子翻转、单粒子功能中断和单粒子闩锁效应的实时监测.利用加速器中子源,对该微处理器开展14 MeV中子辐照试验.试验结果表明,中子注量累积达3.5×1011 cm-2时,该器件未发生单粒子锁定效应.但总线通信、模数转换等功能模块发生了多次单粒子功能中断,其中集成总线通信接口模块为最敏感单位,试验获得的器件中子单粒子效应截面为6.6×10-11 cm2.
文献关键词：
微处理器;中子单粒子效应;14 MeV中子;测试系统
中图分类号：
作者姓名：
段丙皇;杜川华;朱小锋;李悦;陈泉佑
作者机构：
中国工程物理研究院 电子工程研究所,四川 绵阳 621999;中国科学院 国家空间科学中心,北京 100190
文献出处：
引用格式：
[1]段丙皇;杜川华;朱小锋;李悦;陈泉佑-.微处理器中子单粒子效应测试系统设计与试验研究)[J].原子能科学技术,2022(04):734-741
A类：
中子单粒子效应,单粒子锁定
B类：
微处理器,测试系统设计,大气中子,TI,CMOS,单粒子翻转,单粒子功能中断,单粒子闩锁,闩锁效应,加速器中子源,MeV,中子辐照,辐照试验,锁定效应,总线通信,模数转换,功能模块,中集,通信接口,口模
AB值：
0.219695
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