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基于全反射原理的 X 射线荧光分析技术及其应用研究
文献摘要：
X 射线荧光分析技术是一种基于全反射原理的物质多元素在线及 ENCE 技术。该技术的研发极大地解决了地质品种检测复杂程度高、难度大的问题。基于全反射 X 射线荧光分析技术具备多元素同时检测、量化简单、经济效果好等优势，在环境、生物医药、食品及半导体材料生产企业获得广泛应用。本文通过对相关文献资料的梳理，对该技术应用的影响因素及在不同领域中的具体应用进行了阐述，希望能为相关企业及工作人员提供一定参考。
文献关键词：
全反射;X 射线荧光分析;机体效应;样品测定
中图分类号：
作者姓名：
张伟;刘晓峰;刘永睿;郑连宝
作者机构：
丹东东方测控技术股份有限公司 辽宁 丹东 118000;辽宁省科学技术馆 辽宁 沈阳 110167
文献出处：
引用格式：
[1]张伟;刘晓峰;刘永睿;郑连宝-.基于全反射原理的 X 射线荧光分析技术及其应用研究)[J].中国机械,2022(07):69-71
A类：
ENCE,机体效应
B类：
全反射,荧光分析,多元素,复杂程度,同时检测,化简,经济效果,生物医药,半导体材料,生产企业,样品测定
AB值：
0.262009
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