典型文献
基于随机三层环形子电路的路径级NBTI老化预测
文献摘要：
纳米工艺水平下,电路可靠性成为电路设计的重要问题.其中,老化又是电路可靠性的主要威胁之一.所以,为了制定老化缓解措施,评估老化以避免电路故障变得至关重要.提出了一种基于随机三层环形子电路的路径级老化预测框架,该框架将NBTI效应作为一种诱导退化机制得到三层环形子电路10年内老化延时,并使用线性回归模型对其老化延时趋势进行学习.之后,基于该模型,可以快速得到电路关键路径的老化延时.实验结果表明,提出的框架在保证精度的同时,时间效率也有较大的提升.
文献关键词：
老化预测;NBTI;随机三层环形子电路;线性回归
中图分类号：
作者姓名：
徐辉;朱瑞;孙侠;何富贵
作者机构：
安徽理工大学计算机科学与工程学院,安徽淮南 232001;安徽理工大学数学与大数据学院,安徽淮南 232001;皖西学院电子与信息工程学院,安徽六安 237012
文献出处：
引用格式：
[1]徐辉;朱瑞;孙侠;何富贵-.基于随机三层环形子电路的路径级NBTI老化预测)[J].齐齐哈尔大学学报（自然科学版）,2022(06):27-34
A类：
随机三层环形子电路,NBTI
B类：
径级,老化预测,工艺水平,电路可靠性,电路设计,主要威胁,缓解措施,电路故障,应作,退化机制,延时,线性回归模型,关键路径,时间效率
AB值：
0.245755
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