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某发射筒端盖开盖性能异常原因
文献摘要：
某发射筒端盖在进行开盖性能测试时出现形态异常现象.采用X射线检测、仿真分析等方法对该端盖形态异常的原因进行了分析.结果表明:端盖中的金属增强材料偏移至应力沟槽,试验方法选用不当,导致了该端盖在测试时形态异常;X射线检测可以发现端盖中的金属增强材料偏移至应力沟槽,动态开盖试验方法也可以避免端盖在测试时出现形态异常.
文献关键词：
发射筒端盖;开盖形态;X射线检测;仿真分析
中图分类号：
作者姓名：
蔡泽;武丽丽;柯贤朝
作者机构：
上海航天精密机械研究所,上海 201600;上海材料研究所 上海市工程材料应用与评价重点实验室,上海 200437
文献出处：
引用格式：
[1]蔡泽;武丽丽;柯贤朝-.某发射筒端盖开盖性能异常原因)[J].理化检验-物理分册,2022(07):38-40,44
A类：
发射筒端盖,开盖形态
B类：
异常原因,异常现象,射线检测,增强材料,移至,沟槽
AB值：
0.127663
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