典型文献
X射线荧光光谱法测定硅酸盐岩石中主次量成分结果异常时的质量控制
文献摘要：
硅酸盐岩石样品的主次量成分分析(业内俗称硅酸盐成分全分析)是地质工作的重要内容.通过监测岩石内部成分含量的变化,可以了解相应元素在地壳内的迁移情况和变化规律、元素的集中和分散情况、岩浆的来源及可能出现的矿物相,可进一步解决矿体岩相分带、阐明岩石成因等问题;并且硅酸盐岩石主次量成分的含量是矿物定名时的重要依据[1].因此,选择能准确测定硅酸盐主次量成分含量的方法非常重要.
文献关键词：
中图分类号：
作者姓名：
林桂芝
作者机构：
核工业二三〇研究所分析测试中心,咸阳 712000
文献出处：
引用格式：
[1]林桂芝-.X射线荧光光谱法测定硅酸盐岩石中主次量成分结果异常时的质量控制)[J].理化检验-化学分册,2022(02):216-219
A类：
B类：
荧光光谱法,硅酸盐,盐岩,主次,常时,岩石样品,俗称,地质工作,成分含量,地壳,移情,分散情况,岩浆,矿物相,矿体,岩相分带,岩石成因,定名
AB值：
0.357059
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