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基于吸收光谱技术的制冷剂膜厚测量系统研制
文献摘要：
制冷剂液膜蒸发现象广泛地存在于航空航天、制冷空调和消费电子等领域,高精度定量分析液膜厚度对于了解液膜分布情况、揭示液膜传热规律及优化相关工业过程至关重要.将R1233zd作为研究对象,提出一种基于吸收光谱技术的制冷剂液膜厚度测量新方法.首先获取了不同温度(11.8,13.5,15.2,16.5,18.0℃)下R1233zd的吸收光谱,构建液膜厚度反演模型,并研制膜厚测量系统.利用厚度可调(0～800 μm)的标准具对该系统的测量精度进行验证.进一步结合图像法对水平石英玻璃板上的R1233zd液膜蒸发过程进行研究,发现两种方法测得的液膜厚度随时间的变化趋势吻合良好.该系统实现了 R1233zd液膜蒸发过程中膜厚的高精度测量,有望为相关工业过程的设计和优化提供数据支撑.
文献关键词：
测量;吸收光谱;膜厚;蒸发
中图分类号：
作者姓名：
孔帅帅;许晓妍;孙昊;方奕栋;苏明旭;杨荟楠
作者机构：
上海理工大学能源与动力工程学院,上海200093
文献出处：
引用格式：
[1]孔帅帅;许晓妍;孙昊;方奕栋;苏明旭;杨荟楠-.基于吸收光谱技术的制冷剂膜厚测量系统研制)[J].中国激光,2022(17):59-64
A类：
B类：
吸收光谱,光谱技术,制冷剂,测量系统,系统研制,航空航天,制冷空调,费电,液膜厚度,液膜分布,传热规律,工业过程,R1233zd,厚度测量,反演模型,标准具,测量精度,图像法,石英玻璃,玻璃板,蒸发过程,系统实现,中膜,高精度测量,设计和优化
AB值：
0.3167
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