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栅格超构表面与微缺陷耦合光散射特性分析
文献摘要：
为精准高效调校并检测微纳超构表面,基于时域多分辨分析(MRTD)方法研究了栅格微纳超构表面与掩埋微缺陷的耦合散射问题.从Maxwell方程出发,引入多分辨概念,建立耦合散射模型,推导出散射场,并与时域有限差分(FDTD)方法的计算结果进行比对,以验证MRTD方法的正确性并分析其优点.结合含微缺陷的栅格超构表面场分布,给出研究缺陷各参数对超构光学系统影响的必要性.通过数值计算分析缺陷尺寸、掩埋深度及相对方位等因素对耦合光散射特性的影响.上述结果为功能性表面设计、超灵敏检测、散射峰值方向及频率选择等领域和方向提供技术支持.
文献关键词：
散射;栅格超构表面;微缺陷;场分布;耦合
中图分类号：
作者姓名：
巩蕾;吴振森;于洁;王海斌;王利国;杨利红;阳志强
作者机构：
西安工业大学光电工程学院,陕西西安710021;西安电子科技大学物理与光电工程学院,陕西西安710071
文献出处：
引用格式：
[1]巩蕾;吴振森;于洁;王海斌;王利国;杨利红;阳志强-.栅格超构表面与微缺陷耦合光散射特性分析)[J].光学学报,2022(16):220-226
A类：
栅格超构表面
B类：
微缺陷,光散射特性,精准高效,调校,多分辨分析,MRTD,掩埋,Maxwell,散射模型,时域有限差分,FDTD,场分布,光学系统,系统影响,缺陷尺寸,埋深,超灵敏检测,频率选择
AB值：
0.292764
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