典型文献
使用单能X射线辐射装置对CdTe探测效率的实验刻度
文献摘要：
CdTe探测器对单能平行光子源的绝对测量之前,需要进行效率刻度.利用MCNP5蒙特卡罗模拟程序建立CdTe探测器物理模型,模拟计算了 10～260 keV能量段能点的本征探测效率,在10～60 keV能量段探测效率高于75％.用单能X射线装置和HPGe探测器对CdTe探测器本征探测效率进行了实验刻度.结果表明,在10～100 keV能量范围内CdTe探测器的模拟效率与实验效率趋势一致,最大误差不超过5.6％.因为Te元素在27 keV和32 keV处会产生逃逸峰,导致探测效率在这2个能量处有明显下降趋势.用241Am和133Ba放射源对CdTe探测器进行效率刻度验证,在能量为59.54 keV和81 keV放射源标定的探测效率与单能X射线辐射装置测量值相符.
文献关键词：
计量学;CdTe探测器;本征探测效率;蒙特卡罗;探测效率刻度
中图分类号：
作者姓名：
余涛;郭思明;周建斌;蒋政;郄晓雨;郭锴悦;吴金杰
作者机构：
成都理工大学,四川 成都610059;中国计量科学研究院,北京100029;河北科技大学,河北 石家庄050018;中国计量大学,浙江 杭州310018
文献出处：
引用格式：
[1]余涛;郭思明;周建斌;蒋政;郄晓雨;郭锴悦;吴金杰-.使用单能X射线辐射装置对CdTe探测效率的实验刻度)[J].计量学报,2022(10):1366-1370
A类：
本征探测效率,探测效率刻度
B类：
CdTe,探测器,光子,绝对测量,MCNP5,蒙特卡罗模拟,模拟程序,器物,物理模型,keV,线装,HPGe,实验效率,最大误差,逃逸,241Am,133Ba,放射源,测量值
AB值：
0.226644
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