典型文献
某星载二次电源耳片损伤原因分析及改进措施
文献摘要：
根据产品设计规范、产品生产过程记录材料以及试验相关资料,对某星载二次电源研制过程中,冲击试验时耳片损伤问题进行了原因分析.探究了冲击试验时耳片损伤的机理,提出了增加耳片数量的改进措施,并通过理论分析与试验对改进措施进行了验证.分析结果表明改进措施有效,明显提高了耳片设计裕度.试验结果表明,试验后试验件耳片无损伤,增加耳片数量解决了冲击试验时耳片损伤的问题.
文献关键词：
耳片损伤;冲击;试验
中图分类号：
作者姓名：
谢小龙;王克成;段立军;周斌;魏东栋
作者机构：
兰州空间技术物理研究所,甘肃兰州 730000
文献出处：
引用格式：
[1]谢小龙;王克成;段立军;周斌;魏东栋-.某星载二次电源耳片损伤原因分析及改进措施)[J].现代信息科技,2022(15):48-51
A类：
耳片损伤
B类：
星载,损伤原因,分析及改进,产品设计,设计规范,产品生产过程,研制过程,冲击试验,裕度,无损伤
AB值：
0.189415
相似文献
机标中图分类号，由域田数据科技根据网络公开资料自动分析生成，仅供学习研究参考。
