典型文献
基于PCIE总线的双框架控制力矩陀螺控制器串行/并行自动测试系统设计与实现
文献摘要：
为解决当前双框架控制力矩陀螺(DGCMG)控制器的自动测试设备不能对多组被测产品并行测试的问题和在串行测试中出现冗余测试的问题,采用PCIE总线技术和多线程技术,研发了基于PCIE总线的DGCMG控制器串行/并行自动测试系统.该自动测试系统可同时对四台DGCMG控制器进行并行测试或可定义测试内容的串行测试.测试结果表明,该自动测试系统解决了传统自动测试方法效率低、灵活性差的问题,且具有精度高,稳定性好的特点.
文献关键词：
自动测试系统;DGCMG;并行测试;PCIE总线;可自定义测试内容;串行测试
中图分类号：
作者姓名：
刘四海;吴可;孙丹峰;周承豫;吴秋轩
作者机构：
杭州电子科技大学,杭州 310018;河南科技学院,新乡 453003;上海航天控制技术研究所,上海 200233
文献出处：
引用格式：
[1]刘四海;吴可;孙丹峰;周承豫;吴秋轩-.基于PCIE总线的双框架控制力矩陀螺控制器串行/并行自动测试系统设计与实现)[J].制造业自动化,2022(05):38-42
A类：
框架控制,DGCMG,串行测试,可自定义测试内容
B类：
PCIE,控制力矩陀螺,自动测试系统,测试系统设计,系统设计与实现,自动测试设备,测产,并行测试,总线技术,多线程技术,四台,可定义,自动测试方法
AB值：
0.174557
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