典型文献
应用于光束质量测量的阵列光纤串扰校正
文献摘要：
为降低光束质量测量系统中阵列光纤输出串扰导致的测量误差,本文提出了硬件设计与算法构建相结合的串扰校正方法,并就此展开了相关的原理研究与方法验证.首先,基于光束质量测量要求和光纤传光原理分析了阵列光纤的串扰影响;其次,结合朗伯散射原理和实验结果验证了校正串扰的原理:使用朗伯体降低阵列光纤输出光发散角差异,并建立统一的弥散光斑串扰模型,再采用反卷积算法复原到靶光斑;再次,介绍了针对性的反卷积算法原理,并就相关参数的设计展开了讨论;最后,对真实光斑、光纤输出的未校正光斑及已校正光斑进行对比分析,实验验证了校正方法的可行性.实验结果表明:与未校正光斑相比,校正后光斑强度分布的相对均方根误差由36.06％降至4.67％,桶中功率的相对均方根误差由7.79％降低至0.73％,86.5％桶中功率所在束宽的测量相对误差由10.83％降至3.46％,结合校正算法的图像处理和参数计算总时间约为8s.
文献关键词：
光束质量测量;阵列光纤;串扰校正;反卷积
中图分类号：
作者姓名：
罗杰;秦来安;侯再红;朱文越;张巳龙
作者机构：
中国科学技术大学环境科学与光电技术学院,安徽合肥230026;中国科学院合肥物质科学研究院安徽光学精密机械研究所中国科学院大气光学重点实验室,安徽合肥230031;先进激光技术安徽省实验室,安徽合肥230037
文献出处：
引用格式：
[1]罗杰;秦来安;侯再红;朱文越;张巳龙-.应用于光束质量测量的阵列光纤串扰校正)[J].光学精密工程,2022(12):1418-1428
A类：
光束质量测量,阵列光纤,串扰校正
B类：
低光,测量系统,测量误差,硬件设计,校正方法,就此,方法验证,原理分析,朗伯,光发散角,角差,弥散,散光,光斑,反卷积算法,复原,算法原理,正光,强度分布,束宽,合校,校正算法,参数计算,8s
AB值：
0.189849
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