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典型文献
一种基于PAM模型的芯片供应链风险识别方法
文献摘要:
[目的/意义]随着贸易全球化的发展,以芯片为代表的高新产业供应链呈现出全球分工与多企业参与的特点.同时,因科技制裁、新冠肺炎疫情等不确定性事件的增多,芯片供应链遭受风险的频率也随之大幅增长.因此,在不确定环境下如何有效地识别芯片供应链面临的风险并发现其中的风险关联成为需要解决的重要问题之一.[方法/过程]利用PAM模型,结合句子级事件抽取原理提出一种三阶段的芯片供应链风险识别方法.首先,将开源文本数据进行停用词与分词处理后通过PAM模型发现超主题及其关联主题;其次,利用主题关键词,发现与主题密切关联的文本,并从中提取主题风险句,利用依存句法识别风险句中的具体事件;最后,利用语义依存树识别事件间关联,获得风险句的风险属性,利用PAM模型及风险属性将具体风险进行关联和可视化展现.[结果/结论]以新冠肺炎疫情发生以来与芯片供应链风险相关的新闻文本为数据来源进行实例验证.通过采集新闻文本,结合芯片供应链特征,对芯片供应链上游、中游、下游以及整体风险进行识别,最终共识别出64条风险,并对部分风险内容及其关联进行可视化展现,证明了该方法的有效性.
文献关键词:
风险识别;供应链风险;芯片供应链;PAM模型;风险事件抽取
作者姓名:
王天宇;窦永香;温浩宇
作者机构:
西安电子科技大学经济与管理学院,陕西 西安 710071
文献出处:
引用格式:
[1]王天宇;窦永香;温浩宇-.一种基于PAM模型的芯片供应链风险识别方法)[J].情报理论与实践,2022(11):126-135
A类:
风险事件抽取
B类:
PAM,芯片供应链,供应链风险,风险识别,高新产业,产业供应链,全球分工,企业参与,科技制裁,性事,不确定环境,风险关联,联成,句子级,开源,文本数据,停用,用词,分词,词处理,模型发现,依存句法,识别风险,依存树,获得风险,联和,新闻文本,数据来源,合芯
AB值:
0.323304
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