典型文献
扫描电镜技术在高分子表征研究中的应用
文献摘要：
扫描电子显微镜(scanning electron microscope,SEM)是表征高分子材料微观结构及其组成信息重要的手段之一,具有操作简便、信号电子种类多样且对样品损伤较小等特点.本文系统阐述了 SEM的工作原理,通过与透射电子显微镜(transmission electron microscope,TEM)进行比较,突出了其优势与特色.详细讨论了该技术的测试方法,包括样品制备、仪器参数设定、操作技巧与图像处理,并揭示了获得高质量SEM图像的关键技术.介绍了SEM不同的信号电子成像、SEM与其他仪器联用及SEM原位分析技术在高分子材料表征中的应用与进展.最后,对SEM的发展趋势进行了展望.
文献关键词：
扫描电子显微镜;高分子材料;微观结构;组成信息;应用
中图分类号：
作者姓名：
郑鑫;由吉春;朱雨田;李勇进
作者机构：
杭州师范大学材料与化学化工学院 杭州311121
文献出处：
引用格式：
[1]郑鑫;由吉春;朱雨田;李勇进-.扫描电镜技术在高分子表征研究中的应用)[J].高分子学报,2022(05):539-560
A类：
高分子表征
B类：
扫描电镜技术,表征研究,scanning,electron,microscope,高分子材料,材料微观结构,组成信息,样品损伤,透射电子显微镜,transmission,TEM,样品制备,仪器参数,参数设定,操作技巧,仪器联用,原位分析,材料表征
AB值：
0.344073
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