典型文献
一种一维相扫数字阵列快速校准方法研究
文献摘要：
在相控阵天线校准中,常用的平面近场校准方法需要专用的测试场地和设备,效率不高;而"中场法"仅需要在阵面前方不远的距离上放置测试天线,利用相控阵单元可单通道控制的特点,实现快速和高精度校准."中场法"对场地要求不高,因而获得广泛应用.该方法使用条件是:测试天线相对阵面中心的距离不满足远场条件,但测试天线和阵中单元的距离须满足远场条件.在一些大型的两维阵列,方位面为无源行馈天线,仅在俯仰面电扫,若满足行馈天线的远场条件,则需要较远的距离.文章研究了一维相扫的平面阵的快速校准方法,分析了校准误差分布,并通过远场波瓣验证了该方法的有效性.该方法进一步拓展了"中场法"在相控阵天线校准中的应用.
文献关键词：
中场法;相控阵;校准
中图分类号：
作者姓名：
连迎春;于大群;韩旭
作者机构：
中国电子科技集团公司第十四研究所,南京210039
文献出处：
引用格式：
[1]连迎春;于大群;韩旭-.一种一维相扫数字阵列快速校准方法研究)[J].微波学报,2022(03):14-19
A类：
中场法
B类：
扫数,数字阵列,快速校准,校准方法,相控阵天线,近场,试场,效率不高,前方,不远,阵单元,单通道,通道控制,精度校准,使用条件,对阵,远场条件,两维,无源,俯仰,仰面,较远,平面阵,误差分布,波瓣
AB值：
0.343518
相似文献
机标中图分类号，由域田数据科技根据网络公开资料自动分析生成，仅供学习研究参考。
