典型文献
利用粒度重组方法克服X射线荧光光谱粉末压片法的基体效应
文献摘要：
采用X射线荧光光谱粉末压片法测定铝铁中铝时,由于粒度效应的影响,铝测量结果的准确度降低.通常,采用单一控制样品粒度小于0.075 0 mm的制样方法来克服粒度效应时,铝的X射线荧光强度的相对标准偏差(RSD,n=10)达到4.3％.在大量试验的基础上,提出了一项粒度重组技术,即通过调整样品 中的0.250～0.125 mm、0.125～0.075 0 mm、0.075 0～0.045 0 mm、＜0.045 0 mm 4个粒度等级的质量占比为2 ∶ 2 ∶ 1 ∶ 5后,铝的X射线荧光强度的RSD(n=10)降为1.2％,有效降低了粒度效应的影响.从粒度调整对测定结果的影响、两种制样方法对测量强度的影响、不同制样方法样片表面差异、不同分析方法准确度的显著性差异4个方面进行讨论,证明粒度重组方法能有效地消除粒度效应对粉末压片法结果的影响,铝铁中铝的测定结果与EDTA滴定法的结果准确度无显著性差异.
文献关键词：
X射线荧光光谱法(XRF);粉末压片;粒度效应;粒度重组方法;铝铁;铝
中图分类号：
作者姓名：
王丽晖;杨诺莎;高巍;张雷;潘英胜;李军伟
作者机构：
鞍钢股份有限公司鲅鱼圈钢铁分公司质检计量中心,辽宁营口 115000
文献出处：
引用格式：
[1]王丽晖;杨诺莎;高巍;张雷;潘英胜;李军伟-.利用粒度重组方法克服X射线荧光光谱粉末压片法的基体效应)[J].冶金分析,2022(07):71-75
A类：
粒度重组方法
B类：
粉末压片法,基体效应,铝铁,粒度效应,样品粒度,制样方法,荧光强度,相对标准偏差,RSD,重组技术,质量占比,降为,测定结果,样片,面差,EDTA,滴定法,荧光光谱法,XRF
AB值：
0.206842
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