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一种厚膜片式电阻器抗硫化性能的快速评价方法
文献摘要：
为快速评价厚膜片式电阻器的抗硫化性能,提出了一种新方法.该方法以硫脲为硫源,将样品浸入一定温度的硫脲水溶液中,测试浸入前后的电阻变化率并进行评价.与目前以硫化氢、硫磺等为硫源的方法相比较,该方法在评价速度、环保性、安全性、操作便利性等方面具有明显优势.以银电极样品和抗硫化厚膜片式电阻器为对象,硫脲和硫化氢为硫源,做了两组对照实验,结果表明,硫脲溶液法的评价速度至少是传统硫化氢法的8倍.
文献关键词：
厚膜片式电阻器;抗硫化;评价方法;硫脲
中图分类号：
作者姓名：
廖云鹏;凌志远
作者机构：
华南理工大学 材料科学与工程学院,广东 广州 510630
文献出处：
引用格式：
[1]廖云鹏;凌志远-.一种厚膜片式电阻器抗硫化性能的快速评价方法)[J].电子元件与材料,2022(10):1038-1044
A类：
厚膜片式电阻器
B类：
抗硫化,硫化性能,快速评价,硫脲,浸入,定温,水溶液,硫化氢,硫磺,环保性,操作便利性,对照实验,溶液法
AB值：
0.16388
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