典型文献
基于电学法的GaN功率器件热阻测试研究
文献摘要：
针对功率器件的热阻测试需求,开展了基于电学法的GaN器件热阻测试方法研究.分别采用Vgs和Vds温敏参数进行电学法测试对比,分析了其温敏特性差异、测试电流、及加热电流对热阻测试结果的影响,通过集成电学法与红外法测试系统对热阻测试结果进行了对比,验证了两种测试结果的可信性.测试结果表明,Vgs和Vds呈现不同趋势的线性温度特性,电压Vds对于温度的响应显著低于Vgs,且热敏参数的选择是影响GaN功率器件热阻测试结果的主要原因.
文献关键词：
热阻测试;温敏参数;GaN;功率器件;结温测试
中图分类号：
作者姓名：
刘羽炎;朱建垣;罗潇
作者机构：
中国电子技术标准化研究院;工业和信息化部电子第五研究所
文献出处：
引用格式：
[1]刘羽炎;朱建垣;罗潇-.基于电学法的GaN功率器件热阻测试研究)[J].信息技术与标准化,2022(11):40-43,48
A类：
电学法,温敏参数
B类：
GaN,功率器件,器件热阻,热阻测试,测试研究,测试需求,测试方法研究,Vgs,Vds,温敏特性,热电,红外法,测试系统,可信性,温度特性,热敏,结温测试
AB值：
0.241958
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