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典型文献
铝线楔形焊接工艺中铝屑的产生原因研究
文献摘要:
铝线超声楔形焊接中易产生铝屑,这会使相邻引线搭接而产生风险,从而引起器件短路,造成器件失效.针对该问题,对铝屑产生原因进行研究,发现铝屑主要是来自两方面:一是在完成管脚位置焊接后,焊接工具后移距离的大小会影响切割铝线后线尾在劈刀楔形槽的形状,芯片键合位置处焊接前劈刀楔形槽内线尾直径的不一致(部分区域被拉伸变细)会导致在焊接过程中劈刀的楔形槽前角在变细铝线的坡度上产生纵向的摩擦,从而导致撕裂,形成侧边刺突铝屑;二是不同切刀刀锋设计会影响切槽处的铝屑堆积/撕裂状态,切槽处堆积的铝屑会被粘连到线尾,带有铝屑的线尾被焊接到芯片键合位置,从而造成芯片键合位置焊点的头部产生刺突铝屑.该研究结果可为解决铝屑问题、提高芯片封装的良品率提供理论和实践指导.
文献关键词:
集成电路封装;引线键合;铝线;超声楔形焊接;铝屑;劈刀;切刀
作者姓名:
吴秀谦;李路;王鹤林
作者机构:
恩智浦半导体(中国)有限公司,天津 300385
文献出处:
引用格式:
[1]吴秀谦;李路;王鹤林-.铝线楔形焊接工艺中铝屑的产生原因研究)[J].山西冶金,2022(05):44-47
A类:
超声楔形焊接
B类:
铝线,焊接工艺,铝屑,产生原因,中易,搭接,短路,成器,成管,管脚,脚位,后移,小会,劈刀,楔形槽,槽内,内线,变细,焊接过程,前角,撕裂,侧边,切刀,刀刀,刀锋,计会,切槽,粘连,连到,接到,焊点,生刺,芯片封装,良品率,实践指导,集成电路封装,引线键合
AB值:
0.344035
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