典型文献
基于EFA-GA-XGBoost组合预测模型的绝缘子表面污秽程度预测方法
文献摘要：
文章提出了基于探索性因子分析的GA-XGBoost组合预测模型评估绝缘子表面污秽状态,,以个因子变量及其得分作为输入,绝缘子上下表面的ESDD和NSDD作为输出建立基于XGBoost的污秽预测,所提模型具有更短的预测时间、更高的预测精度和更强的泛化能力.
文献关键词：
EFA-GA-XGBoost;预测模型
中图分类号：
作者姓名：
赵昕迪
作者机构：
重庆科技学院,重庆,401331
文献出处：
引用格式：
[1]赵昕迪-.基于EFA-GA-XGBoost组合预测模型的绝缘子表面污秽程度预测方法)[J].电子测试,2022(05):68-70
A类：
NSDD
B类：
EFA,GA,XGBoost,组合预测模型,绝缘子,污秽程度,探索性因子分析,模型评估,因子变量,分作,下表面,ESDD,泛化能力
AB值：
0.340578
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