典型文献
基于边界扫描的某型电路板测试方法研究
文献摘要：
随着技术的发展,新装备中大规模集成电路的应用越来越广泛,边界扫描测试(JTAG测试)的功能逐渐强大和完善,已成为国际上通用的电路板测试方法.文章简单介绍ScanWorks测试系统的软硬件功能,软件开发流程,基于Scan-Works边界扫描软件的电路板测试方法具体实例.通过在软件平台中调用ScanWorks相关驱动程序,实现对ScanWorks软件生成的测试序列或测试项目的配置和调用执行,并可将测试执行的结果以对话框的形式返回到执行界面,测试系统接收测试数据显示到报表中,从而实现边扫软件与软件平台的融合.
文献关键词：
ScanWorks;边界扫描;ATE;电路板测试
中图分类号：
作者姓名：
梁晓芬
作者机构：
国营芜湖机械厂,安徽 芜湖 241007
文献出处：
引用格式：
[1]梁晓芬-.基于边界扫描的某型电路板测试方法研究)[J].科技创新与应用,2022(22):142-145
A类：
电路板测试,ScanWorks
B类：
边界扫描,测试方法研究,新装备,大规模集成电路,JTAG,测试系统,硬件功能,软件开发,开发流程,软件平台,调用,相关驱动,驱动程序,测试序列,测试项目,测试执行,对话框,返回,测试数据,报表,ATE
AB值：
0.32793
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