典型文献
基于J750的ARINC429总线协议芯片测试技术研究
文献摘要：
本文对ARINC429数据总线作了简要的概述,具体介绍了ARINC429数据字结构和电平特点,同时以DEI1016A芯片为例,详细介绍了该芯片功能,并基于美国泰瑞达J750测试系统,给出了DEI1016A芯片的测试解决方案.
文献关键词：
ARINC429数据总线;双极归零码;控制字;数据字;MCG mode
中图分类号：
作者姓名：
宋尚升;龙永佳
作者机构：
中国空空导弹研究院,河南洛阳,471000
文献出处：
引用格式：
[1]宋尚升;龙永佳-.基于J750的ARINC429总线协议芯片测试技术研究)[J].电子制作,2022(04):26-29
A类：
DEI1016A,双极归零码
B类：
J750,ARINC429,总线协议,芯片测试,测试技术,数据总线,数据字,电平,国泰,测试系统,控制字,MCG,mode
AB值：
0.400127
相似文献
机标中图分类号，由域田数据科技根据网络公开资料自动分析生成，仅供学习研究参考。
