典型文献
MCU内部DAC修调电路设计及其修调方法
文献摘要：
针对芯片制造工艺存在的不稳定性以及芯片的个体性能差异化问题,提出一种在MCU内部增加修调控制电路的设计方法,并基于此修调电路设计一套特定的修调方法.设计以内部DAC模块为例,通过分析其控制电路中的自锁机制,探讨引导区程序划分及其功能实现,使用模块特定的修调方法获得修调值,并将数据固化在FLASH中,实现每颗芯片的可变式调节功能.通过在Cadence中完成整体电路模型仿真,验证设计与方法的合理性,为MCU应用领域的DAC修调相关实践提供有效的理论支撑.
文献关键词：
MCU应用;DAC模块;FLASH存储器;电路修调
中图分类号：
作者姓名：
崔艾东;赵国华
作者机构：
中国电子科技集团公司第四十七研究所,沈阳110000;海军青岛雷达声纳修理厂,青岛266121
文献出处：
引用格式：
[1]崔艾东;赵国华-.MCU内部DAC修调电路设计及其修调方法)[J].微处理机,2022(05):14-16
A类：
电路修调
B类：
MCU,DAC,修调电路,电路设计,芯片制造,制造工艺,个体性,性能差异,控制电路,自锁,功能实现,调值,FLASH,每颗,变式,调节功能,Cadence,电路模型,模型仿真,设计与方法,调相,存储器
AB值：
0.465674
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