典型文献
基于TestCenter的仪表转接机制设计与实现
文献摘要：
随着包处理芯片设计的需求不断扩大,芯片验证环节的复杂性和难度的提高.一个完整芯片的验证过程会涉及到虚拟功能模型,寄存器传输级RTL,FPGA原型验证不同类型.在进行虚拟功能模型和RTL的验证时会以虚拟仪表的方式进行数据包收发的驱动,FPGA原型验证则以真实仪表的方式进行数据包收发驱动.一旦测试场景发生改变,需要重新编写测试用例,降低测试效率.本文针对验证的重用性差,效率低下等缺点设计了一种虚拟测试仪表,利用TCL语言实现测试脚本和转接脚本,结合网络测试仪表TestCenter实现设计虚拟仪表和真实仪表的转换机制,使得测试用例的可重用性提高,易回归,缩短不同验证阶段的时间.
文献关键词：
自动化测试;虚拟仪表;TestCenter
中图分类号：
作者姓名：
艾俊伟;黄元波
作者机构：
武汉邮电科学研究院 武汉 430074;烽火通信科技股份有限公司 武汉 430073
文献出处：
引用格式：
[1]艾俊伟;黄元波-.基于TestCenter的仪表转接机制设计与实现)[J].网络新媒体技术,2022(01):67-72
A类：
TestCenter
B类：
转接,接机,机制设计,芯片设计,芯片验证,整芯,验证过程,功能模型,寄存器,RTL,FPGA,原型验证,虚拟仪表,数据包,收发,测试场景,新编,测试用例,测试效率,虚拟测试,测试仪,TCL,言实,测试脚本,网络测试,转换机制,可重用性,自动化测试
AB值：
0.393094
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