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X射线计算机断层扫描成像在纺织技术中的应用
文献摘要：
传统光学成像或扫描电镜成像作为微观结构的分析方法只能观测到材料外观形貌,难以实现材料内部结构的三维表征,在一定程度上限制了其在纺织领域中的应用.为促进三维电子计算机断层扫描(CT)技术在纺织领域的应用和发展,本文首先介绍X射线计算机断层扫描成像(XCT)在纺织应用上的测试设备、测试方式以及图像质量的影响因素;进一步综述XCT技术在织物内部结构表征、辅助建模预测织物性能(热传递性、压缩性)以及纱线研究等方面的应用进展;最后总结XCT技术在纺织应用上的优缺点,同时针对XCT在纺织领域中研究的匮乏,对未来XCT技术的潜在应用进行了展望.
文献关键词：
X射线计算机断层扫描(XCT);结构表征;纺织;应用
中图分类号：
作者姓名：
郭伟娜;高彦涛;胡文锋;吴湘济
作者机构：
上海工程技术大学纺织服装学院 上海 201620
文献出处：
引用格式：
[1]郭伟娜;高彦涛;胡文锋;吴湘济-.X射线计算机断层扫描成像在纺织技术中的应用)[J].辐射研究与辐射工艺学报,2022(03):105-112
A类：
三维电子计算机断层扫描
B类：
线计算,计算机断层扫描成像,纺织技术,光学成像,外观形貌,难以实现,三维表征,纺织领域,应用和发展,XCT,测试设备,测试方式,图像质量,结构表征,建模预测,织物性能,热传递性,压缩性,纱线,时针,中研,潜在应用
AB值：
0.282219
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