典型文献
基于拉伸率的3DVSP道集切除技术及应用
文献摘要：
常规处理后的3DVSP共检波点道集在不同偏移距处产生不同拉伸畸变效应,尤其是浅层和大偏移距尤为明显,影响叠加剖面成像质量.为此,分析了拉伸效应原因,推导了拉伸率公式,提出了基于拉伸率的道集切除方法:逐点计算共检波点道集中每一点拉伸率,确定有效拉伸率范围,对拉伸率过大的点进行切除.模型分析和实际资料处理结果显示了方法的正确性和有效性.
文献关键词：
3DVSP;拉伸率;道集切除;叠加剖面成像
中图分类号：
作者姓名：
张洁
作者机构：
中国石化石油物探技术研究院,江苏南京 211103
文献出处：
引用格式：
[1]张洁-.基于拉伸率的3DVSP道集切除技术及应用)[J].物探与化探,2022(01):169-174
A类：
3DVSP,道集切除,叠加剖面成像
B类：
拉伸率,技术及应用,常规处理,共检波点道集,畸变效应,大偏移距,成像质量,切除方法,逐点,资料处理,处理结果
AB值：
0.223821
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