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SIMS微粒分析制样装置研制
文献摘要：
二次离子质谱(SIMS)微粒分析的目的是通过分析擦拭样品中的单个感兴趣微粒的同位素比来探知未申报核活动,将擦拭样品上的微粒回收到样品垫上是整个分析流程的第一步,微粒回收率直接影响其对未申报核活动的探知能力.本工作以空气动力学理论计算为基础,采用空气动力学模拟软件对微粒在回收装置内的运动状况进行了模拟,以此设计优化了回收装置结构,研究了在样品垫上附加捕集材料以提高回收率的方法.结果表明:新型擦拭样品回收装置回收率稳定、回收区域集中、微粒分散性较好.对于1μm的含铀微粒,在不考虑棉布残余含铀微粒的情况下,微粒回收率约为70％,与软件模拟结果一致,在考虑棉布上残余含铀微粒的情况下,微粒回收率约为45％;采用阿皮松作为捕集材料能有效提高微粒回收率,而较长的烘烤时间、较高的烘烤温度能有效降低多原子离子带来的本底干扰,此时其对微粒主同位素分析的影响可忽略.
文献关键词：
擦拭样品;含铀微粒;同位素比;回收装置
中图分类号：
作者姓名：
沈彦;王凡;李力力;张燕;赵永刚
作者机构：
中国原子能科学研究院 放射化学研究所,北京 102413
文献出处：
引用格式：
[1]沈彦;王凡;李力力;张燕;赵永刚-.SIMS微粒分析制样装置研制)[J].原子能科学技术,2022(04):698-704
A类：
擦拭样品,含铀微粒
B类：
SIMS,制样,装置研制,二次离子质谱,感兴趣,同位素比,比来,探知,第一步,率直,空气动力学,动力学理论,动力学模拟,回收装置,捕集,集材,高回收率,样品回收,分散性,棉布,软件模拟,烘烤时间,烘烤温度,子离子,本底,同位素分析
AB值：
0.259426
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