典型文献
基于单片机的电路设备导通测试装置设计
文献摘要：
在当今不断发展高度信息化、高度自动化、高度集成的技术时代,大型电气设备越来越多地使用多芯线缆.而多芯线缆又会较多的受到外界各种环境的影响,非常容易失效.多芯线缆的性能已成为影响系统整体可靠性的重要因素.而现在一直存在线缆检测的困难.目前主要的检测手段是人工检测.针对以上问题设计研究了一款电路设备导通测试装置.该装置以ATmega64单片机为其核心控制部件,利用CD4051芯片进行导通测试通道的选择,采用TLP521-4芯片进行数字信号隔离处理,再将测量得到的导通结果数据传送至单片机并通过MAX232芯片与串口助手进行数据的传送.最后对测试系统进行测试获得测试结果并分析结果.
文献关键词：
导通;Atmega64单片机;线缆检测
中图分类号：
作者姓名：
田登辉;李锦明
作者机构：
中北大学仪器与电子学院 太原030051
文献出处：
引用格式：
[1]田登辉;李锦明-.基于单片机的电路设备导通测试装置设计)[J].电子测量技术,2022(03):32-36
A类：
ATmega64,CD4051,TLP521,MAX232,Atmega64
B类：
单片机,导通,测试装置设计,高度信息,高度集成,技术时代,电气设备,多芯线缆,非常容易,影响系统,系统整体,线缆检测,检测手段,问题设计,控制部件,数字信号,信号隔离,数据传送,送至,串口,助手,测试系统
AB值：
0.286489
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