典型文献
一种逻辑电路自动上下电电测系统的设计
文献摘要：
随着电子信息技术的发展,自动化设备替代人力已成为趋势,对自动化设备的可靠性要求越来越高.本文针对逻辑电路主要靠人力进行上下电测试、操作繁琐、效率低下的现状,研究了一种基于电子信息集成技术、嵌入式系统的且可实现自动循环上下电电测的测试系统,实现了上下电测试智能化.
文献关键词：
逻辑电路;自动上下电;测试系统
中图分类号：
作者姓名：
魏建中;王希清
作者机构：
杭州士兰微电子股份有限公司,浙江 杭州 310012
文献出处：
引用格式：
[1]魏建中;王希清-.一种逻辑电路自动上下电电测系统的设计)[J].电子元器件与信息技术,2022(09):39-42
A类：
自动上下电
B类：
逻辑电路,电子信息技术,自动化设备,电测试,信息集成,集成技术,嵌入式系统,自动循环,测试系统
AB值：
0.236696
相似文献
机标中图分类号，由域田数据科技根据网络公开资料自动分析生成，仅供学习研究参考。
