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高斯坐标和瑞利坐标在电磁统计中的应用
文献摘要：
电磁测量数据、模拟数据需与已知的统计分布曲线比对,以判断数据是否满足该分布.然而,仅仅依赖非线性曲线间的相似性,其判断往往不可靠,甚至错误,除非利用拟合优度R2辅助评价.本文提出高斯坐标和瑞利坐标产生方法,分别将高斯和瑞利累积分布函数曲线都变换成直线,通过观察数据点是否在该直线上或均匀地分布在该直线两侧附近,直观而准确判断数据是否满足相应统计分布.该方法灵敏度极高且通用,能克服拟合优度的一定缺陷,可推广到其他非线性物理规律的判定.
文献关键词：
高斯分布;瑞利分布;概率密度函数;累积分布函数;坐标变换
中图分类号：
作者姓名：
徐鹏;吕辉;黄楚云
作者机构：
湖北工业大学 芯片产业学院,湖北 武汉430068
文献出处：
引用格式：
[1]徐鹏;吕辉;黄楚云-.高斯坐标和瑞利坐标在电磁统计中的应用)[J].武汉大学学报（理学版）,2022(05):562-566
A类：
B类：
电磁测量,测量数据,模拟数据,统计分布,分布曲线,非线性曲线,线间,不可靠,除非,拟合优度,高斯和,累积分布函数,换成,通过观察,观察数据,据点,能克服,非线性物理,物理规律,高斯分布,瑞利分布,概率密度函数,坐标变换
AB值：
0.428576
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