典型文献
针对复杂路径条件的固件测试方法改进
文献摘要：
针对当前固件模糊测试方案在测试具有复杂路径条件的固件时开销较大并且效率低下的问题,提出了一种高效省时的固件测试改进方法.该方法根据固件与外设交互使用的通信协议来修改模糊测试器产生的测试用例,使得测试用例可以突破校验和检查这一复杂路径条件.使用该方法改进了固件测试方案p2im(processor-peripheral interface modeling).真实场景下的固件测试结果表明,改进的方案(improved processor-peripheral interface modeling,Ip2im)在固件测试中基本块覆盖率和函数覆盖率都有提升,可以成功绕过固件的校验和检查.
文献关键词：
嵌入式设备;固件;模糊测试;复杂路径条件;校验和
中图分类号：
作者姓名：
王丽娜;张增光;张桐;陈思
作者机构：
空天信息安全与可信计算教育部重点实验室,武汉大学国家网络安全学院,湖北武汉430072
文献出处：
引用格式：
[1]王丽娜;张增光;张桐;陈思-.针对复杂路径条件的固件测试方法改进)[J].武汉大学学报（理学版）,2022(01):51-56
A类：
复杂路径条件,p2im,Ip2im
B类：
固件,方法改进,模糊测试,测试方案,开销,省时,改进方法,外设,通信协议,测试用例,校验和,processor,peripheral,interface,modeling,真实场景,improved,基本块,和函数,绕过,嵌入式设备
AB值：
0.308446
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