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天文镜面保护铝膜偏振特性测量方法
文献摘要：
望远镜的仪器偏振效应主要由金属镜面的反射偏振引起,是当前高精度天文偏振测量面临的主要技术问题.为了消除仪器偏振对偏振测量精度的影响,在实验室对金属镀膜材料的偏振特性进行精确全面的测量研究显得至关重要.针对保护铝膜提出一种偏振特性测量方法,该方法使用两种光电调制方式对保护铝膜的缪勒(Mueller)矩阵关键元素进行直接测量,并基于双层膜的结构模型,使用多入射角多波长的测量数据在不依赖色散模型以及参数假设的情况下反演光学参数.反演结果与传统方法得到的结果一致,同时本文方法能够对偏振特性进行更好的表征.
文献关键词：
偏振测量;仪器偏振;保护铝膜偏振特性;Mueller矩阵;反演光学参数
中图分类号：
作者姓名：
夏苏;袁沭
作者机构：
中国科学院云南天文台,云南 昆明 650216;中国科学院大学,北京 100049
文献出处：
引用格式：
[1]夏苏;袁沭-.天文镜面保护铝膜偏振特性测量方法)[J].天文研究与技术－国家天文台台刊,2022(02):158-164
A类：
保护铝膜偏振特性,仪器偏振,多入射角,反演光学参数
B类：
天文,镜面,望远镜,主要技术,偏振测量精度,镀膜,膜材料,光电调制,调制方式,Mueller,关键元素,直接测量,双层膜,多波长,测量数据,不依,色散模型
AB值：
0.22758
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