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基于NI Vision的保偏光纤几何参数测量技术研究
文献摘要：
近年来随着高精度光纤陀螺小型化的发展,细径保偏光纤的研制生产技术不断成熟,在研制和应用过程中急需对保偏光纤的几何参数进行准确测量.基于环形LED光源斜射照明的暗场成像技术,结合NI Vision视觉工具包提供的图像粒子分析处理算法,实现了保偏光纤各项几何参数的实时快速测量,且实验测量结果的重复性较好,能够很好地满足细径保偏光纤在研制生产和应用中的测量需求.
文献关键词：
保偏光纤;几何参数;粒子分析
中图分类号：
作者姓名：
赵耀;韩正英;尚福洲
作者机构：
中国电子科技集团公司第四十一研究所,山东青岛,266555
文献出处：
引用格式：
[1]赵耀;韩正英;尚福洲-.基于NI Vision的保偏光纤几何参数测量技术研究)[J].电子测试,2022(13):33-35
A类：
B类：
NI,Vision,保偏光纤,光纤几何参数,参数测量,测量技术研究,高精度光纤陀螺,小型化,断成,准确测量,LED,光源,斜射,照明,暗场成像,工具包,粒子分析,分析处理,理算,快速测量,实验测量
AB值：
0.366338
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