典型文献
基于STM32的仪表出厂检测系统设计
文献摘要：
研发了一套基于STM32的仪表出厂检测系统.采用STM32+FP GA作为硬件平台,采集数显性仪表读数图像,对图像进行预处理,使用YOLO算法识别仪表读数,并将识别结果与标准源输出比较来判断仪表是否合格.完成仪表读数图像获取、读数识别、结果判断和自动剔除等任务,实现仪表出厂前自动检测.实验表明检测系统的平均正确率为98.23％,速度为1233 s/次.为工业仪表的出厂检测方案设计提供了借鉴,提高了工厂自动化水平.
文献关键词：
仪表出厂检测;STM32;FPGA;YOLO算法
中图分类号：
作者姓名：
金黎明;丁家满;陈贵荣
作者机构：
广州市轻工技师学院,广东广州 510000;昆明理工大学,云南昆明 650031
文献出处：
引用格式：
[1]金黎明;丁家满;陈贵荣-.基于STM32的仪表出厂检测系统设计)[J].仪表技术与传感器,2022(06):83-87
A类：
仪表出厂检测,STM32+FP
B类：
硬件平台,仪表读数,YOLO,算法识别,识别仪,标准源,读数识别,自动剔除,自动检测,工业仪表,检测方案,工厂自动化,自动化水平,FPGA
AB值：
0.248083
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