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在片校准件参数定值方法
文献摘要：
为解决在片校准件长时间使用后,由于参数定值发生偏差,导致测试结果不准的问题,针对在片校准件的等效电路模型,提出了一种参数定值方法.通过测试在片校准件S参数、长度和电阻的方法,对特征阻抗、开路电容、短路电感、负载电阻和电感、直通延时和损耗准确定值.在100 MHz～67 GHz频段范围内,用定值后的在片校准件进行了试验分析,结果表明:与使用出厂值相比,重新定值后的在片校准件测试结果更接近被测件的实际值.
文献关键词：
计量学;在片校准件;参数定值;等效电路模型
中图分类号：
作者姓名：
霍晔;吴爱华;王一帮;栾鹏;刘晨;梁法国;孙静;张立飞
作者机构：
中国电子科技集团公司第十三研究所,河北石家庄050051
文献出处：
引用格式：
[1]霍晔;吴爱华;王一帮;栾鹏;刘晨;梁法国;孙静;张立飞-.在片校准件参数定值方法)[J].计量学报,2022(08):979-983
A类：
在片校准件,短路电感
B类：
参数定值,定值方法,时间使用,等效电路模型,特征阻抗,开路,负载电阻,直通,延时,MHz,GHz,频段,试验分析,出厂
AB值：
0.236675
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