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光致聚合型全息存储材料收缩对体光栅影响的实验研究
文献摘要：
光致聚合型全息存储材料在曝光后由于发生聚合反应、单体扩散反应等,材料本身会出现不同程度的收缩,而材料的收缩又会使得光栅矢量改变,无法保持最佳读出角度,导致全息图读出时出现失真的情况.探究材料收缩对体光栅的影响,进而寻找最佳曝光量,成为发挥光致聚合型全息存储材料应用价值的关键.本文介绍了光致聚合型全息存储材料的收缩机理,通过实验分析了不同曝光量对光栅距离收缩的影响,并验证了干涉条纹反衬度越低,材料收缩量越小的规律.
文献关键词：
光致聚合全息存储材料;体光栅;曝光量;条纹反衬度
中图分类号：
作者姓名：
王智斌
作者机构：
湖北联合天诚防伪技术股份有限公司,湖北武汉 430000
文献出处：
引用格式：
[1]王智斌-.光致聚合型全息存储材料收缩对体光栅影响的实验研究)[J].中国科技纵横,2022(15):70-71,127
A类：
条纹反衬度,反衬度,光致聚合全息存储材料
B类：
聚合型,材料收缩,体光栅,聚合反应,扩散反应,读出,全息图,失真,曝光量,材料应用,收缩机,干涉条纹,收缩量
AB值：
0.183615
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