典型文献
基于紧缩场暗室的相控阵天线快速测试系统设计研究
文献摘要：
随着有源相控阵天线技术的发展,针对有源相控阵天线的快速校准及测量成为了制约其大批量产业化生产的瓶颈.本文针对有源相控阵天线校准测试效率问题设计了一套基于紧缩场暗室的相控阵天线快速测试系统,可实现多频点、多波束的自动化测试.系统用于产品辐射特性测试,对远场波瓣图进行采集,并具备幅相校准,波束指向精度补偿,EIRP和G/T等指标的测试和处理能力.
文献关键词：
紧缩场暗室;相控阵天线;多频点测试;多波束测试;自动化快速测试
中图分类号：
作者姓名：
钟洋;卢刚;王伟豪
作者机构：
中电科蓉威电子技术有限公司,四川成都,610074
文献出处：
引用格式：
[1]钟洋;卢刚;王伟豪-.基于紧缩场暗室的相控阵天线快速测试系统设计研究)[J].电子制作,2022(23):87-90,75
A类：
紧缩场暗室,指向精度补偿,多频点测试,多波束测试,自动化快速测试
B类：
测试系统设计,系统设计研究,有源相控阵天线,快速校准,大批量,产业化生产,测试效率,效率问题,问题设计,自动化测试,辐射特性,远场,波瓣,幅相校准,波束指向,EIRP,处理能力
AB值：
0.181988
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