典型文献
OCXO老化测试系统设计
文献摘要：
本文提出一种恒温晶体振荡器(Oven Controlled Crystal Oscillator,简称OCXO)老化测试系统,对系统的结构功能、软件实现与硬件设计进行阐述.老化测试系统现已落地并应用于OCXO的生产测试工作中,性能稳定,运行可靠,为OCXO的规模化生产与测试工作提供保障与支持.
文献关键词：
OCXO;老化率;MCU;测试系统
中图分类号：
作者姓名：
赵斌
作者机构：
河北远东通信系统工程有限公司,河北石家庄,050200
文献出处：
引用格式：
[1]赵斌-.OCXO老化测试系统设计)[J].电子制作,2022(22):80-82
A类：
Oven
B类：
OCXO,老化测试,测试系统设计,恒温,晶体振荡器,Controlled,Crystal,Oscillator,结构功能,软件实现,硬件设计,测试工作,规模化生产,老化率,MCU
AB值：
0.3987
相似文献
机标中图分类号，由域田数据科技根据网络公开资料自动分析生成，仅供学习研究参考。
