典型文献
基于D-S证据多源信息融合与固态光电倍增-UHF联合检测的GIS局部放电模式识别
文献摘要：
气体绝缘组合电器(GIS)局部放电检测使用的传统特高频(ultra-high frequency,UHF)法具有抗偶发干扰能力差、容易误检等问题,针对局部放电的光信号进行检测是最近的研究热点,然而新式光检测法具有检测死角多、容易漏检的问题.为此,本文提出基于Goubau天线和硅光电倍增管联合的GIS光电局部放电检测方法,并对GIS内部4种典型绝缘缺陷产生的局部放电进行光电同步测量.提出基于多层感知机和Demp-ster-Shafer(D-S)证据理论的GIS局部放电光电联合检测模式识别方法,对UHF法与光测法联合采集得到的局部放电相位分析图谱统计特征参量进行信息融合与判断决策.结果表明:该方法能较好地弥补利用单种测量结果进行局部放电模式识别不准确的问题,使用D-S证据理论对光电联合测量结果进行模式识别的准确率高于单一测量结果的准确率.
文献关键词：
局部放电;GIS;特高频法;硅光电倍增;D-S证据理论
中图分类号：
作者姓名：
耿伊雯;芮逸凡;范路;王亚林;尹毅
作者机构：
上海交通大学电子信息与电气工程学院,上海 200240;上海交通大学电力传输与功率变换控制教育部重点实验室,上海 200240
文献出处：
引用格式：
[1]耿伊雯;芮逸凡;范路;王亚林;尹毅-.基于D-S证据多源信息融合与固态光电倍增-UHF联合检测的GIS局部放电模式识别)[J].绝缘材料,2022(11):109-117
A类：
Goubau,局部放电相位分析
B类：
多源信息融合,固态,UHF,联合检测,放电模式,模式识别,气体绝缘组合电器,ultra,high,frequency,偶发,干扰能力,对局,光信号,新式,检测法,死角,漏检,天线,硅光电倍增管,局部放电检测方法,绝缘缺陷,同步测量,多层感知机,Demp,ster,Shafer,证据理论,电光,光电联合,检测模式,光测法,联合采集,分析图谱,统计特征,特征参量,特高频法
AB值：
0.31399
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