典型文献
硅橡胶电晕老化特性的微观机理研究
文献摘要：
对硅橡胶进行电晕加速老化,测量不同老化时间下硅橡胶的绝缘特征参量,并通过特征参量分析深入研究了硅橡胶的老化机理.结果表明:电晕老化使得硅橡胶表面结构遭受严重的破坏,且在其表面形成了明显的孔洞和裂纹,并造成严重的粉化现象.电晕老化导致硅橡胶的分子长链断裂成小分子链,使得硅橡胶分子链柔顺度降低,形成各种缺陷并造成硅橡胶绝缘性能下降.电子和空穴陷阱能级中心随着电晕老化时间的增加呈现先缓慢下降后快速下降的变化趋势.且电晕老化导致深陷阱逐渐发展成浅陷阱,对电子的束缚作用减弱,最终造成硅橡胶沿面闪络的发生.
文献关键词：
硅橡胶;电晕老化;绝缘性能;陷阱能级;闪络电压
中图分类号：
作者姓名：
熊媛媛;李志伟;龚瑞
作者机构：
四川化工职业技术学院,四川 泸州 646300;重庆市畜牧科学院,重庆 402460;国网四川省电力公司眉山供电公司,四川 成都 610072
文献出处：
引用格式：
[1]熊媛媛;李志伟;龚瑞-.硅橡胶电晕老化特性的微观机理研究)[J].绝缘材料,2022(06):64-70
A类：
B类：
电晕老化,老化特性,微观机理,加速老化,老化时间,特征参量,老化机理,表面结构,孔洞,粉化,子长,长链,链断裂,裂成,小分子,柔顺度,硅橡胶绝缘,绝缘性能,性能下降,空穴,陷阱能级,慢下,快速下降,深陷阱,沿面闪络,闪络电压
AB值：
0.31784
相似文献
机标中图分类号，由域田数据科技根据网络公开资料自动分析生成，仅供学习研究参考。
