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GIS盆式绝缘子表面缺陷及其诊断方法研究综述
文献摘要：
盆式绝缘子作为气体绝缘组合电器(GIS)最薄弱的绝缘环节,其表面缺陷是提高GIS设备绝缘强度研究中的关键问题.本文首先介绍了气泡缺陷、异物缺陷、表面脏污以及裂纹缺陷等盆式绝缘子常见表面缺陷的产生和发展机理;其次分析总结了盆式绝缘子表面缺陷诱发闪络的发生机制,明确了盆式绝缘子表面电场分布及表面电荷积聚是影响绝缘子沿面闪络的重要因素;此外,归纳了现有盆式绝缘子表面缺陷诊断方法的利弊;最后,鉴于工频电压激励下盆式绝缘子表面缺陷局部放电检测方法的不足,从激励局部放电的电压模式入手,研究并总结了不同电压激励下盆式绝缘子表面缺陷局部放电检测方法的现状.
文献关键词：
盆式绝缘子;表面缺陷;闪络;局部放电;诊断方法
中图分类号：
作者姓名：
韩帅;高飞;廖思卓;郭瑞;王健;李庆民
作者机构：
中国电力科学研究院,北京100192;华北电力大学新能源电力系统国家重点实验室,北京 102206
文献出处：
引用格式：
[1]韩帅;高飞;廖思卓;郭瑞;王健;李庆民-.GIS盆式绝缘子表面缺陷及其诊断方法研究综述)[J].绝缘材料,2022(02):12-22
A类：
B类：
盆式绝缘子,表面缺陷,气体绝缘组合电器,最薄,绝缘强度,气泡缺陷,异物,脏污,裂纹缺陷,发展机理,发生机制,表面电场,电场分布,表面电荷积聚,沿面闪络,缺陷诊断,利弊,工频电压,局部放电检测方法,电压模式
AB值：
0.24053
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