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同轴纳米电缆结构发光材料制备与分析方法
文献摘要：
纳米同轴电缆是一种一维纳米结构,因具有特殊的物理化学性能,受到广泛的关注.纳米同轴电缆有多种制备方法,最常见的是分步组装的方法.常见的纳米同轴电缆形貌表征有SEM、TEM等方法.TEM的电子束可以穿透样品成像,不需要剥离掉部分外层,因而分析纳米同轴电缆的形貌时,采用TEM比较方便.HRTEM能够分析纳米同轴电缆的晶体结构,一张HRTEM图片可以同时清楚的观测到芯部与外层材料的晶格条纹.常见的纳米同轴电缆光学性质和掺杂研究的分析方法主要还是光谱分析.可以通过分析发光光谱中发光峰的位置可分裂确定稀土离子的掺杂位置.
文献关键词：
同轴纳米电缆;分步制备;扫描电镜;透射电镜;光谱分析
中图分类号：
作者姓名：
洪春水;杨雷
作者机构：
永州市湘江稀土有限责任公司,湖南 永州 426111;湖南大学 材料科学与工程学院,湖南 长沙 410082
文献出处：
引用格式：
[1]洪春水;杨雷-.同轴纳米电缆结构发光材料制备与分析方法)[J].广东化工,2022(24):97-99
A类：
同轴纳米电缆,分步制备
B类：
电缆结构,发光材料,材料制备,同轴电缆,维纳,纳米结构,物理化学性能,制备方法,形貌表征,电子束,分外,外层,HRTEM,晶体结构,芯部,晶格条纹,光学性质,光谱分析,发光光谱,稀土离子,透射电镜
AB值：
0.275854
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