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KH2 PO4晶体已加工表面频率特征对亚表层温度场的影响
文献摘要：
为了更加准确地分析表面形貌对KH2 PO4(KDP)晶体元件激光损伤和使用性能的影响,通过功率谱密度和连续小波变换对KDP晶体已加工表面存在的实际频率特征进行提取和重构.利用波动光学理论分析经入射波长1.064μm、功率20 MW/μm2的激光束照射1 ns后,表面频率特征对KDP晶体亚表层光场及温度场的影响.结果表明,当表面频率特征的波长越接近入射光波长1.064μm,KDP晶体亚表层的光场畸变现象越严重,会造成局部聚焦,温度越高;当波长超过20μm时,在振幅不变的情况下,最高温度随着波长的增加基本不变.通过切削实验获得的KDP晶体已加工表面上明显存在的波长分别为14μm、50μm和140μm,对KDP晶体亚表层造成的温升分别为56 K、22 K和12 K.当波长相同时,KDP晶体的最高温度与表面频率幅值成线性关系.随着表面频率波长的增加,温度最高点的位置向KDP晶体内部延伸.
文献关键词：
已加工表面;波长;振幅;KDP晶体;光场;温度场
中图分类号：
作者姓名：
束梓豪;庞启龙;况良杰
作者机构：
南京林业大学机械电子工程学院,南京,210037;上海市质量监督检验技术研究院,上海,200000
文献出处：
引用格式：
[1]束梓豪;庞启龙;况良杰-.KH2 PO4晶体已加工表面频率特征对亚表层温度场的影响)[J].中国机械工程,2022(16):1983-1991
A类：
B类：
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AB值：
0.303467
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