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典型文献
二氧化钒材料相变的太赫兹光谱与阵列成像
文献摘要:
二氧化钒是一种具有绝缘态到金属态可逆相变特性的材料,在光器件及信息技术中有非常广泛的应用.分别采用太赫兹频段的光谱测量技术和阵列成像技术研究分析了硅基二氧化钒材料的相变过程.采用傅里叶变换光谱测量系统,获得了整个样品在2.5~20.0 THz频段透射谱和反射谱随温度的变化,分析得到了硅基二氧化钒材料相变的温度范围为334~341 K,对应温差为7 K;得到了相变前后样品对4.3 THz辐射的透过率变化达40%以上,反射率变化接近30%.随后采用一套4.3 THz的阵列成像系统,测量了整个样品在相变前后的太赫兹图像,获得了该材料由金属态转变为绝缘态时,其对4.3 THz激光信号的透过率由6.7%升至50.7%,透过率变化达44%,与傅里叶变换光谱在4.3 THz处的测量结果相当.上述研究结果为硅基二氧化钒材料用于2.5 THz以上电磁辐射的透射调制和反射调制提供了很好的实验数据支撑.
文献关键词:
太赫兹;硅基二氧化钒;相变材料;傅里叶变换光谱;阵列成像技术
作者姓名:
谭智勇;万文坚;曹俊诚
作者机构:
中国科学院上海微系统与信息技术研究所 太赫兹固态技术重点实验室,上海 200050;中国科学院大学 材料与光电研究中心,北京 100049
引用格式:
[1]谭智勇;万文坚;曹俊诚-.二氧化钒材料相变的太赫兹光谱与阵列成像)[J].太赫兹科学与电子信息学报,2022(12):1225-1230
A类:
阵列成像技术,硅基二氧化钒
B类:
太赫兹光谱,绝缘,相变特性,光器件,太赫兹频段,光谱测量,测量技术,相变过程,傅里叶变换光谱,测量系统,THz,透过率,反射率,成像系统,太赫兹图像,光信号,电磁辐射,相变材料
AB值:
0.160383
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