典型文献
高功率密度激光宽角度阵列探测技术研究
文献摘要：
为了提高探测器阵列靶的到靶激光功率密度测量范围及入射角度宽容性,从防护取样衰减结构出发,基于全反射与透射散射理论设计镀金铜基面板、光纤取样和散射片所组成的防护取样衰减结构.同时,将所设计的结构应用于探测器阵列靶系统.通过激光辐照靶面热分析、光线追迹仿真及激光逐点扫描实验,对系统抗激光损伤能力、角度特性及通道响应一致性进行分析测试.结果 表明,该防护取样衰减结构可以承受高功率密度激光的长时间辐照;在0°～30°的入射角度范围内,实测角度特性系数经余弦校正后相对于正入射偏差小于4％;各通道单元间的响应不一致性标准差均小于2％.
文献关键词：
激光光学;探测器阵列靶;高功率密度;取样衰减;角度宽容性
中图分类号：
作者姓名：
管雯璐;谭逢富;侯再红;罗杰;秦来安;何枫;张巳龙;吴毅
作者机构：
中国科学院合肥物质科学研究院安徽光学精密机械研究所中国科学院大气光学重点实验室,安徽合肥230031;中国科学技术大学,安徽合肥230026;先进激光技术安徽省实验室,安徽合肥230037
文献出处：
引用格式：
[1]管雯璐;谭逢富;侯再红;罗杰;秦来安;何枫;张巳龙;吴毅-.高功率密度激光宽角度阵列探测技术研究)[J].光学学报,2022(02):151-158
A类：
探测器阵列靶,角度宽容性,取样衰减
B类：
高功率密度,探测技术,激光功率密度,密度测量,测量范围,入射角度,全反射,理论设计,镀金,金铜,铜基,基面,光纤,结构应用,激光辐照,热分析,光线追迹,逐点,激光损伤,分析测试,测角,余弦校正,不一致性,激光光学
AB值：
0.262443
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